USB接口的EFT解决方案 - 李保桢

作者简介：李保桢先生毕业于暨南大学电子信息工程本科获学士学位，后又获得中大硕士学位。毕业后于国家信息产业化部五研究所EMC部工作，后又出去一起创业，建了一家民营第三方完全符合并获得CNAS认可的颇具规模的EMC实验室。继续从事电磁兼容领域的研究。

摘要：本文主要介绍 USB 产品的 EFT 抗干扰测试方法和原理，以及给出了一些相应对策建议。

关键词： USB EFT 测试 干扰抑制

Universal Serial Bus 之简称,中文名称为：通用序列总线，其特性为随插即用，USB接口适用各种操作系统，不需安装特殊驱动程序，也不需繁复的设备安装过程，透过USB的接口，您即可马上存取您的各项资料或驱动其它硬件，堪称为目前最佳人性化的使用接口，目前USB接口备广泛 应用一般计算机配备中例如键盘﹑鼠标﹑软盘机﹑数字相机﹑CD/DVD-ROM﹑随身碟与其它储存设备等均可见其身影。USB接口从1.0版本发展到1.1版本，到现在的2.0﹑3.0版本。速度从原来的 15Mbps 发展到了480Mbps，现在的3.0版本更加会10倍于现有的2.0速度，USB接口未来发展必定速度更高，应用更加广泛。同时，USB的EMC问题也显得越来越重要，频率的越来越高，使得产品要满足EN 55022/GB9254，EN55024/GB17618 越来越困难。下面将就USB接口的EFT抗干扰进行探讨。

一﹑按照 IEC61000-4-4/GB/T17626.4 电快速瞬变脉冲群 EFT 抗扰度试验，目的是验证由切换电感性负载、 继电器触点弹跳而引起的各种瞬变骚扰的抗干扰能力。这种试验是一种耦合到电源线路、 控制线路、信号线路上的由许多快速瞬变脉冲组成的脉冲群试验。快速脉冲群是由间隔为300ms的连续脉冲串构成，每一个脉冲串持续 15ms，脉冲串由很多单个脉冲的上升沿 5ns，持续时间50ns， 重复频率 5kHz 的单个脉冲组成。实验要点：短上升时间，重复率，低能量。

二﹑USB 接口的EFT测试，USB接口同时带有信号线和5V DC供电线，因此我们仍然选择用电容耦合夹的干扰注入方式。因为耦合/去耦网络中的去耦电容（0.1uF 左右）以及去耦电感（＞100μH），会使工作信号发生严重失真，特别是对于USB2.0等高速端口，影响更为严重。从而让实验不能如实反映设备的真实状态。但如果是单独的直流电源线（不含信号线），我们仍旧可以采用耦合/去耦 网络来施加干扰。

三﹑根据EFT测试
原理我们可以知道 EFT干扰是过耦合板与受试电缆之间的分布电容进入受试电缆，而受试电缆所接收到的脉冲仍然是相对参考接地板来说的。因此，通过耦合夹对受试电缆所施加的干扰是共模性质的。电快速脉冲干扰导致设备失效的机理根据国外学者对脉冲群干扰造成设备失效的机理的研究，单个脉冲的能量较小，不会对设备造成故障。但脉冲群干扰信号对设备线路结电容充电，当上面的能量积累到一定程度之后，就可能引起线路（乃至系统）的误动作。因此，线 路出错会有个时间过程，而且会有一定偶然性（不能保证间隔多少时间，线路一定出错，特别是当 试验电压达到临界点附近时）。而且很难判断究竟是分别施加脉冲，还是一起施加脉冲，设备更容 易失效。也很难下结论设备对于正向脉冲和负向脉冲哪个更为敏感。实践表明，一台设备往往是某一条电缆线，在某一种试验电压，对某个极性特别敏感。实验显示，信号线要比电源线对电快速脉冲干扰敏感得多。对于 USB 接口产品来说，由于 USB 起始帧间隔时间为1ms，与EFT干扰信号频率成谐波关系。15个帧很可能在一群15ms的EFT干扰脉冲群中丢失，造成USB连接的丢失。

四﹑根据 EFT 干扰的性质，对于 EFT 抗扰的抑制，我们可以知道加入共模滤波器可以很大程度上解决 EFT的问题。但是由于共模滤波器一般用于低速信号的电子产品，不过可能考虑到USB的拓扑和信令方式，USB 开发组织并不推荐。除此之外，解决 EFT 抗扰的方法还可以考虑。
1﹑用TVS 进行保护，TVS 无论是正还是负干扰，都会通过”桥”的一个控制二极管反应在输出端由TVS进行嵌位，而连接数据线的EFT防护是由一个控制二极管和TVS串联组成，它的响应速度极快。极间电容很小，所以是理想的保护模式。市场上也有这类型成熟的集成产品可供使用。
2﹑对于由于EFT干扰使得产品丢失连接的，还可以考虑通过在软件上加入看门狗程序来完成 USB 的软件插拔过程,使得产品在丢失 连接后能自动重新连接上。
3﹑其实大部分EFT问题都是可以通过PCB布线解决的。EFT干扰电流是通过PCB 的地层或印制线与参考地之间的寄生电容流动的，其中主要电流会在地层上，因此地层阻抗非常重要。你要处理好地层完整性，还有滤过波的信号与没有滤过波的信号之间要防止串扰。如之间插入屏蔽地线等﹑使用性能较好的USB连接线﹑外壳接地等等都有助于EFT的抗扰性能。总之，良好的排版可以避免很多EFT的问题。相应的布线规则在USB的官方开发论坛也有介绍。

参考文献：
1﹑GB/7 17626.4-1998 电磁兼容 试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
2﹑IEC61000-4-4/EN55024

话说我上传过这篇文章。。。

话说原作者的名字你两个都写错了哦。。。