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BCI - ISO 11452-4:2020(大电流注入法)

2022-9-29 15:04| 发布者: 曾工| 查看: 13849| 评论: 0|原作者: standard|来自: 电磁兼容网

摘要: 大电流注入(BCI)测试的国际标准ISO 11452-4就汽车电子产品使用环境的发展变化,对测试的相关要求进行了相应的调整。其测试标准从ISO11452-4:2005版本到ISO 11452-4:2011版本再到现在最新的ISO 11452-4:2020版本。 ...
大电流注入(BCI)测试的国际标准ISO 11452-4就汽车电子产品使用环境的发展变化,对测试的相关要求进行了相应的调整。其测试标准从ISO11452-4:2005版本到ISO 11452-4:2011版本再到现在最新的ISO 11452-4:2020版本。

BCI(Bulk current injection)属于EMC抗扰测试,是机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量的一种方法。主要用于场对电缆线束的辐射敏感度测试,它是用电流注入实验来替代辐射场照射的测试技术。

这是利用电流注入探头通过将电流直接感应到连接线束进行抗扰性试验的一种方法。该注入探头由一个耦合钳组成,被测系统的电缆从耦合钳中穿过。然后通过改变感应信号的频率进行抗扰性试验。

将一个电流注人探头夹住样品线束,然后向该探头注入RF干扰。RF电流先在线束中以共模方式流过(即电流在装置的所有导体上以同样的方式流动),然后再进入DUT的连接端口。

非侵入性,因为探头可以简单地夹在任何直径不超过其最大可接受直径的电缆上,不需进行任何直接的电缆导体连接,也不会影响电缆所连接的工作电路。

BCI属于emc测试,是机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法。主要用于场对电缆线束的辐射敏感度测试,它是用电流注入实验来替代辐射场照射的测试技术。

试验条件应符合ISO11452-1中的相关规定,包括以下内容:
试验温度:(23±5)℃
试验湿度:(50±30)% RH
试验电压:12V系统为(13±1)V;24V系统为(26±2)V

对于汽车电子系统测试来说,典型的信号频率范围如下:
BCI测试法频率范围:1MHz~400MHz or 0.1MHz~400MHz 试验需在屏蔽室中进行。

BCI测试功能状态分类


BCI调制方式介绍

每个频点的驻留时间不小于1Sec

BCI测试频率步长


BCI严酷等级

BCI严酷等级曲线


测试方法介绍

替代法:
使用前向功率作为标定和试验的基准参数,特定试验电平(电场、电流、电压或功率)应在实测前标定,按试验计划中预先确定的标定值对DUT施加干扰信号进行试验。标定和试验过程中前向功率和反射功率都应被记录。

闭环法:
在实际试验中,用标定装置测量实验电平(电场、电压、电流或功率)并反馈给信号发生器,以便增加或减少试验电平直到达到预定电平。

BCI校准
按照测试标准规定的等级需要定期进行校准,校准是通过记录将测试中所需的正向发射功率加载在一个 50Ω 校准装置所产生的电流来完成,这个过程中的频率步长不得超过 ISO11452-1 中定义的最大频率步长,校准需用未调制的正弦射频信号进行 校准。装置的一端需连接一个高功率的 50Ω 负载,另一端连接一个 50Ω的射频功率测量装置,同时用一个足够功率裕量的 50Ω 衰减器进行保护。

BCI期间核查
为保证实验室设备测试的稳定性、可靠性、测试结果的精准性,实验室的所有设备在正常运行的状况下需进行1次/月的设备核查我们称之为期间核查,通过本月度校准前向功率和场强值与上月校准值进行比对,判断其设备运行情况,旨在把握测试设备运行状态,提高测试精准度。

BCI测试设备及作用
1.屏蔽室:为了防止受电磁搅扰的影响,而由金属板或金属网构成的一种关闭室。
2.人工电源网络:在指定频率范围内使待测设备与电源和负载电气隔离及耦合DUT骚扰信号。
3.电流注入探头:用于测试功率信号的输出。
4.功率放大器:放大信号发生器产生的功率。
5.功率计:用于监视输出或反馈的功率。
6.信号发生器:提供一个稳定的信号。
7.定向耦合器:前向功率和反向功率的监测通道。
8.6dB固定衰减器:防止测试过程中出现不匹配,造成能量反灌使设备损坏。

BCI测试架设示意图
.除非有其他规定,连接 DUT 与负载模拟器的线束长度为:

替代法:线束长度为1700(+300/-0) mm。

电流注入探头与 DUT 的距离为(150±50) mm,(450±50)mm,(750±50)mm。

如需放置电流监控探头,其距 DUT 的距离为(50±10)mm。

闭环法:1000(+200/-0) mm。

电流注入探头与DUT的距离为(900±10)mm,闭环法必须要放置电流监控探头且到被测设备连接器的距离为(50±10)mm。

BCI替代法测试配置


BCI闭环法测试配置


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